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220413-磁性测厚仪的测量系统分析

2022-04-12 801 1.12M

作者:杨志业*,李阳,王进军,耿莽河,郭燕

单位:沈阳飞机工业(集团)有限公司,辽宁 沈阳 110034

摘要:根据测量系统分析方法,在镀层厚度为7.6 ~ 15.2 μm 的条件下对某磁性测厚仪的测量系统能力进行评估,并考察了基体粗糙度、校准方法和结果统计方法对测量系统能力的影响。结果表明,基体粗糙度(Ra)小于1.6 μm,采用两点校准(含零点),并以ASTM B499-09 标准规定的舍点法进行统计时,测量系统能力较高,但仍不满足精确性公差比(P/T)小于30%的要求。













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